招标项目编号:4197-2140SHJT0001/367
招标范围:6/8吋SIC 图形wafer缺陷检测
招标机构:中电商务(北京)有限公司
招标人:上海积塔半导体有限公司
开标时间:2025-12-02 10:00
公示开始时间:2025-12-02 19:28
评标公示截止时间:2025-12-05 23:59
中标候选人名单:
| 候选人排名 | 投标商名称 | 制造商 | 制造商国别及地区 |
|---|---|---|---|
| 1 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | 中国 |
| 候选人排名 | 投标商名称 | 制造商 | 制造商国别及地区 |
|---|---|---|---|
| 1 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | 中国 |