SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备评标结果公示公告(1)

2026-06-04   机电产品招标投标电子交易平台
项目名称:SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备
招标项目编号:0664-2640SUMECA96/01
招标范围:SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备
招标机构:苏美达国际技术贸易有限公司
招标人:北京天科合达半导体股份有限公司
开标时间:2026-06-02 14:00
公示开始时间:2026-06-04 11:09
评标公示截止时间:2026-06-08 23:59
中标候选人名单:
候选人排名投标商名称制造商制造商国别及地区
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