招标项目编号:0664-2640SUMECA96/01
招标范围:SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备
招标机构:苏美达国际技术贸易有限公司
招标人:北京天科合达半导体股份有限公司
开标时间:2026-06-02 14:00
公示开始时间:2026-06-04 11:09
评标公示截止时间:2026-06-08 23:59
中标候选人名单:
| 候选人排名 | 投标商名称 | 制造商 | 制造商国别及地区 |
|---|---|---|---|
| 1 | 杭州创锐光谱科技集团有限公司 | 杭州创锐光谱科技集团有限公司 | 中国 |
| 候选人排名 | 投标商名称 | 制造商 | 制造商国别及地区 |
|---|---|---|---|
| 1 | 杭州创锐光谱科技集团有限公司 | 杭州创锐光谱科技集团有限公司 | 中国 |